跌落测试操作标准与方法

跌落测试介绍：
跌落测试是主要用来模拟未包装或者已包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落损伤，检验产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，例如：手持型产品（如手机, MP3等）大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg的手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，而MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品（如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。中鉴检测可靠性实验室包装跌落试验机，高可跌落200cm。
跌落试验高度：
应从下列诸值中选取跌落高度:
(25)、50、(100)、250、(500)、(1000)mm。
带括号的数值是优选值。
注：重型设备不宜经受较高的严酷等级。
针对跌落实验有专门的标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，跌落的高度是根据产品重量而定。

跌落测试常规参考标准：
（1）GB/T 2423.8电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
（2）GB/T 4857.5包装 运输包装件 跌落试验方法
（3）IEC 60068-2-32电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
（4）ISTA 3A

用来模拟产品在搬运期间可能经受到的跌落等。包括：
（1）非包装状态产品在搬运期间可能经受的自由跌落，样品通常按照规定的姿态从规定的高度跌落到规定的表面上。
（2）模拟负载电缆上的连接器、小型遥控装置等在使用中可能经受的重复自由跌落。
（3）包装跌落

跌落测试后判定表标准：
1、无功能性的损坏，应仍能正常使用；
2、内部无破损，无脱落器件无功能性的损坏，应仍能正常使用；
3、外壳无破裂或者碎裂，轻微磨损和轻微裂纹是允许的；
4、关机跌落时电池允许脱离主体;开机跌落时，电池允许脱开不超过4次；
5、上下盖不能移位，不能开口(能简单压合的上下盖开口现象允许)；
6、有翻盖的移动台，翻盖不能脱离主体；
7、天线无明显变形。
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